动态表征平台

动态表征平台- SiC Applications Support

este_dcp_01-动态表征平台 -  SIC应用程序支持

Product Number:EVAL_DCP_01
申请注释

The Dynamic Characterization Platform is designed to:

  • Measure
    • MOSFET切换损耗,切换时间和门电量准确
    • Schottky屏障二极管(SBD)和身体二极管反向恢复准确
  • 为门驱动和电源循环PCB布局提供知情的参考设计
  • 提供有关门驱动器布局和组件的知情建议
  • Promote streamlined device validation and quicker design cycles